Desarrollo e implementación de Circuitos Correctores de Errores de baja redundancia para Sistemas Empotrados Distribuidos Reconfigurables

El pasado 18 de Septiembre, J. Gracia-Morán presentó el trabajo titulado «Mejora de un Código de Corrección de Errores para tolerar fallos adyacentes bidimensionales» en las Jornadas SARTECO 2019.

Last 18 September, J. Gracia-Morán presented the paper entitled «Mejora de un Código de Corrección de Errores para tolerar fallos adyacentes bidimensionales» at the Jornadas SARTECO 2019.

El trabajo titulado “Mejora de un Código de Corrección de Errores para tolerar fallos adyacentes bidimensionales” escrito pot J. Gracia-Morán, L.J. Saiz-Adalid, D. Gil-Tomás, J.C. Baraza-Calvo and P.J. Gil-Vicente ha sido aceptado en las Jornadas SARTECO 2019. Resumen: Durante estos últimos años, el desarrollo tecnológico ha permitido aumentar la escala de integración de los circuitos […]

The paper entitled “Mejora de un Código de Corrección de Errores para tolerar fallos adyacentes bidimensionales” written by J. Gracia-Morán, L.J. Saiz-Adalid, D. Gil-Tomás, J.C. Baraza-Calvo and P.J. Gil-Vicente has been accepted at Jornadas SARTECO 2019. Abstract: Durante estos últimos años, el desarrollo tecnológico ha permitido aumentar la escala de integración de los circuitos integrados. […]

El trabajo titulado “Comparison of an Improved Matrix-based Error Correction Code”, escrito por J. Gracia-Morán, L.J. Saiz-Adalid, D. Gil-Tomás, J.C. Baraza-Calvo and P.J. Gil-Vicente ha sido aceptdo en el Workshop on Innovation on Information and Communication Technologies (ITACA-WIICT 2019). Resumen: Nowadays, the probability of occurrence of Single Cell Upsets (SCUs) or Multiple Cell Upsets (MCUs) […]

The paper entitled “Comparison of an Improved Matrix-based Error Correction Code”, written by J. Gracia-Morán, L.J. Saiz-Adalid, D. Gil-Tomás, J.C. Baraza-Calvo and P.J. Gil-Vicente has been accepted in the Workshop on Innovation on Information and Communication Technologies (ITACA-WIICT 2019). Abstract: Nowadays, the probability of occurrence of Single Cell Upsets (SCUs) or Multiple Cell Upsets (MCUs) […]